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日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀

  • 產(chǎn)品型號:HM-1000
  • 更新時間:2024-11-07

簡要描述:日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000
特征
這是一種應用OCT(光學相干斷層掃描)技術的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設備。
1.最多可檢測8層厚度。
2.測量范圍為20μm至17mm,重復性為2μm。
3.測量速度快(250次/秒),可進行高精度測量。
4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體,我們也可以提出最佳系統(tǒng)。

產(chǎn)品詳情
品牌其他品牌產(chǎn)地類別進口
應用領域環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合

日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000 

特征

這是一種應用OCT(光學相干斷層掃描)技術的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設備。

1.最多可檢測8層厚度。

2.測量范圍為20μm至17mm,重復性為2μm。

3.測量速度快(250次/秒),可進行高精度測量。

4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體,我們也可以提出最佳系統(tǒng)。

使用示例

1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量

2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量

3.測量透明管內(nèi)徑

4.鏡片厚度測量

日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000 

特征

這是一種應用OCT(光學相干斷層掃描)技術的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設備。

1.最多可檢測8層厚度。

2.測量范圍為20μm至17mm,重復性為2μm。

3.測量速度快(250次/秒),可進行高精度測量。

4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體,我們也可以提出最佳系統(tǒng)。

使用示例

1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量

2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量

3.測量透明管內(nèi)徑

4.鏡片厚度測量

特征

這是一種應用OCT(光學相干斷層掃描)技術的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設備。

1.最多可檢測8層厚度。

2.測量范圍為20μm至17mm,重復性為2μm。

3.測量速度快(250次/秒),可進行高精度測量。

4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體,我們也可以提出最佳系統(tǒng)。

使用示例

1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量

2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量

3.測量透明管內(nèi)徑

4.鏡片厚度測量

日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀


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